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SP605のBuilt-In System Testをやってみた

前回のBase Reference Designはうまくいかなかったので、もう1つのテスト、Built-In System Test (BIST)をやった見た。

前回と同じように、”ザイリンクス Spartan-6 FPGA SP605 評価キット スタートアップ ガイド”の21ページから27ページを参照した。
前回と大体同じだが、System ACE CFイメージ選択 DIP スイッチ(S1)を1101から、0001に変更した。更に、基板の上側のUSB Mini-B にUSBケーブルを接続して、パソコンにつないだ。付属のUSBメモリからドライバをインストールした。
TeraTermをインストールし、シリアルの設定をして、SP605のSW9を押して、FPGAのコンフィギュレーション?をした。
そうするとシリアル(TeraTerm)のウインドウにメニューが出てきた。
BIST_Demo_1_100416.png

MicroBlazeは動作しているようだ。最初に”1: UART Test”をするために1のキーを押すと、下の図のようにUART Test Passed になった。USB-UARTも大丈夫そうだ。
BIST_Demo_2_100416.png

LED TestもTimer TestもPassedになってOK。”4: FLASH Test”のメッセージ。これも問題なく通ったようだ。
BIST_Demo_3_100416.png

IIC Test, Ethernet Loopback Test, Switch TestもOKだった。”8: External Memory Test"を行った。下の図がやっている様子だ。BIST_Demo_4_100416.png

これはテスト時間が長かった。DDR3 SDRAMをテストしているんだろう。問題なく通ったようだ。
BIST_Demo_5_100416.png

SPI Test, PushButton Test, System ACE CF TestもOKだった。最後のDVI/VGA Testをすると、画面が原色を表示して行って最後にカラーバーを表示した。
BIST_Demo_6_100416.png

BIST_Demo_7_100417.jpg

これで、Base Reference Designは動作しなかったが、BISTは通ったのでボードのハードウェアは安心だ。良かった。
  1. 2010年04月17日 04:36 |
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